XPR3DU 分析天平
梅特勒托利多

XPR3DU

XPR3DU 分析天平

3g超微量,0.01mg精度

超微量分析天平,专为极小样品量的称量而设计。

量程

3g

可读性

0.01mg

重复性

0.01mg

线性误差

0.02mg

技术参数

量程3g
可读性0.01mg
重复性0.01mg
线性误差0.02mg
校正方式内部校正

产品特点

超微量分析
3g微量称量
0.01mg精度
智能化操作辅助