MX105DU 分析天平
梅特勒托利多

MX105DU

MX105DU 分析天平

双量程设计,0.01mg精度

MX系列双量程分析天平,兼顾精细读数与宽量程,灵活应对不同称量场景。

量程

120g

可读性

0.01mg

重复性

0.02mg

线性误差

0.1mg

技术参数

量程120g
可读性0.01mg
重复性0.02mg
线性误差0.1mg
校正方式内部校正

产品特点

双量程自动切换
0.01mg高精度读数
内置校正
符合GLP/GMP规范